日立手持式XRF光譜儀|X-MET系列手持X射線熒光分析儀

為什么選擇X-MET手持X射線熒光光譜儀

**性能

日立手持式XRF光譜儀|X-MET系列手持X射線熒光分析儀提供極好的輕元素 （鎂、鋁、硅、磷、硫、氯）分析，檢測限度低，且可每天提供準確可靠結果。

通過靈活的基本參數法(FP)法進行分析，從而測試多種材料；或若需結果可追溯和高度準確，則使用實證校準。

操作簡單

大觸摸屏和基于圖標的用戶界面，使用戶只需要極少的培訓便可開始操作。

符合人體工學

日立手持式XRF光譜儀|X-MET系列手持X射線熒光分析儀輕便（僅1.5公斤）、簡潔、平衡性好，可供長時間使用，而疲勞度*低。

堅固耐用而擁有成本低

符合IP54要求（等同于NEMA 3）、防水、防塵的X-MET可供室內外使用。

通過MIL-STD-810G**耐用標準測試。

其可選的防扎窗口膜可預防在粗糙表面上測量導致探測器損壞而出現的高昂維修費用。

上等數據管理

完全靈活：可將多達100,000條結果保存在X-MET上，將報告輸出到U盤或個人計算機，或自動將X-MET數據存儲在LiveData云端。

日立手持式XRF光譜儀|X-MET系列手持X射線熒光分析儀應用

▲手持式XRF光譜儀應用于QA/QC

為預防潛在產品事故及其昂貴的后果，在不同生產階段中進行質量控制和質量保證至關重要。通過手持式X射線熒光(HHXRF)，您可以在進料送達時進行快速檢查，并且確認從制造到送貨過程中使用了合格的合金材料。

為何選擇X-MET8000系列手持式合金分析儀來完成此任務？

X-MET提供：

★為快速和可靠金屬分析提供上等性能

★為準確的合金 牌號鑒定提供多種和可定制的合金 牌號數據庫

★堅固耐用而擁有成本低

★使用方便：用戶幾乎不需培訓

★多樣化數據管理：將數據存儲到分析儀、創建測試報告或使用我們的應用程序和云服務，隨時隨地管理您的數據。

▲手持式XRF光譜儀應用于材料可靠性鑒定

材料可靠性鑒定(PMI)計劃使工廠操作員和維修員可測試安裝前后的關鍵流程組件，以確保資產完整性，并預防潛在的災難性故障。通過手持式X射線熒光分析儀(HHXRF)，您可以在幾秒內在現場上確認合金的牌號及其元素化學成分。您無需再依賴供應商的認證。

為何選擇 X-MET8000 手持式光譜儀進行PMI檢查？

★為快速和可靠金屬分析提供上等性能

★為準確的合金鑒定提供多種和可定制的等級數據庫。

★牢固耐用而擁有成本低

★使用方便：幾乎不需用戶培訓

★以完成任務為主的設計：便于使用的上等人體工學，優化的設計，以便檢測難以到達位置的材料（如彎曲處和角落）

★多樣化數據管理：可將結果保存在分析儀上、將定制報告輸出到U盤或個人計算機，或使用應用程序或云服務存儲并分享您的數據。

▲手持式XRF光譜儀應用于廢舊金屬回收

每年，超過4億噸廢金屬被處理。通過檢測對廢金屬進行分類，從將混合廢料分類為低價值和高價值材料，到確定進入熔體的廢料成分和產出質量，金屬回收過程中的各個階段都可增加價值。我們的X-MET分析儀被用于在世界各地的廢金屬加工和回收市場，為金屬回收過程中的每個階段增添價值。

為什么選擇X-MET8000？

★通過精  確的合金 牌號鑒定和元素化學分析（包括分析雜質和懲罰元素），*大限度地提高生產力和利潤

★檢測合金、廢催化轉換器和其他材料

★易于使用：在幾秒后即可開始測試；幾乎無需用戶培訓

★堅固耐用：IP54評級（密封防塵和防濺水），并通過MIL-STD 810G檢測，堅固耐用

★擁有成本低：我們的可選防扎窗口在測量轉角和其他尖銳物體時保護分析儀的檢測器，避免昂貴的維修

★強大的數據管理：將數據存儲在分析儀、U盤，或用我們的應用程序和云服務與同事和買家實時分享結果

▲手持式XRF光譜儀應用于采礦

X-MET8000手持式XRF (HHXRF)分析儀在采礦的多個階段——從早期探索到現場關閉后的環境監控——提供快速、現場的地球化學分析。這極大減少了對實驗室分析的需求，加快了決策過程并降低了檢測成本。

為什么選擇X-MET8000 Expert Geo？

★**的性能：我們的革  命性BOOST?技術和大面積硅漂移探測器提供相當于其他HHXRF型號10倍的靈敏度，提供測量探路儀或懲罰元件所需的低限探測范圍。

★快速分析：在幾秒鐘內測量多達40個元素；快速完成測試程序。

★因牢固耐用而降低擁有成本，并使停工時間縮至*短。

★出色的穩定性：無論天氣如何，您都可信賴結果。

★易于使用：幾乎不需要用戶培訓。

★內置GPS：將地理坐標與測試結果相結合，實現上乘的站點映射。

★強大的數據管理功能：隨時隨地通過藍牙打印機打印結果，并將其附在樣本袋上，以避免混淆；將其導出到U盤，或使用我們的應用程序和云服務隨時隨地實時管理結果。

▲手持式XRF光譜儀應用于土壤重金屬檢測

土壤污染逐漸由工業流程（如采礦和制造）、農業（使用肥料和殺蟲劑）或廢物處理（如錯誤地進行垃圾填埋）等人類活動造成。

暴露在某些污染物中如鉛和鎘等元素對人體健康有害，許多國家已經制定了相關法規和方案，以識別污染區域并管理修復過程（補救）。

例如，作為美國廢物管理計劃的一部分，美國環保局引入了6200標準，通過現場便攜式/手持式X射線熒光(XRF)光譜法，確定土壤和沉積物中的關鍵元素。

操作者可以使用HHXRF，快速在現場篩選重金屬和其他污染物。這使他們能夠極大減少送到場外實驗室進行分析的樣本數量，并降低了分析成本和完成測試程序所需的時間。通過孤立問題區域和在現場確定補救邊界，操作者可*大限度地減少土壤處理和處置成本。

為何選擇X-MET8000 Expert Geo？

★**的性能：利用我們革  命性的BOOST?技術和大面積硅漂移探測器，滿足當今和未來的檢測要求。它們提供了相當于其他HHXRF型號10倍的靈敏度，為測量土壤、污泥和沉積物中關鍵元素（例如美國EPA 6200方法RCRA和優先元素）提供所需的低檢測限制

★快速分析：快速完成調查

★杰出的穩定性：無論天氣如何，您都可以信賴結果。

★因牢固耐用而降低擁有成本，并使停工時間縮至*短

★易于使用：幾乎不需要用戶培訓

★嵌入式GPS：將地理坐標與測試結果相結合，實現上乘的站點映射。

★強大的數據管理功能：隨時隨地通過藍牙打印機打印結果，并將其附在樣本袋上，以避免混淆；將其導出到U盤，或使用我們的應用程序和云服務隨時隨地實時管理結果

▲手持式XRF光譜儀應用于合規性檢測

無論您是電子設備、兒童產品和其他消費品的制造商、零售商或進口商，您都將受到關于限制有害物質(RoHS)以及其他指令（例如2008年CPSIA - 消費者產品**改進法、包裝指令，WEEE - 電子電氣設備廢棄物、CA 65號等）的影響。這些指令已經在不同的地區被制定，以提高產品的**性，并通過控制產品的“上游”來源和處理技術，減少環境污染物。這一立法影響到全球各個行業，包括原材料供應商，組件和成品制造商和零售商。

通過X射線熒光(XRF)進行合規性篩查，提供了被測組件元素化學成分的信息。因其速度快且無損，因此被廣泛使用，且收到標準檢測程序（如IEC 62321方法）的支持。

為什么選擇X-MET8000 Expert CG？

★完全便攜：小巧輕便，X-MET可被帶到需要分析的地方（例如進貨檢驗、倉庫、從工廠到工廠）

★快速而準確地篩選各種材料（例如聚合物、合金）

★快速：當場做出接受/拒絕決

★易于使用：幾乎不需要用戶培訓

★可選的小光斑準直器（直徑3毫米）：通過將其與周圍材料隔離，精   確檢測小特征

★集成攝像頭：清楚看到您檢測的下面

★強大的數據管理：將結果存儲在分析儀上、將報告導出到U盤，或使用我們的應用程序和云服務實時管理您的數據

▲手持式XRF光譜儀應用于鍍層測厚

金屬涂層在許多行業中被使用，并被用于裝飾用途（如鏡面拋光、金色），以增強耐腐蝕性、提高可焊性、增加硬度、減少摩擦和磨損等等。

為確保所覆涂層的厚度足以賦予零件和部件其所需的性能，且不會因涂層過厚而浪費材料，電鍍公司需控制其工藝，并檢查*終產品是否符合規格。

基于X射線熒光(XRF)的涂層厚度測量是一種被廣泛接受和被業界認可的分析技術。手持式XRF提供**的多功能性：您可以將分析儀帶到需要測試的地方。

為什么選擇X-MET8000？

★操作簡單：X-MET擁有“對準—拍攝”的直觀用戶界面；幾乎不需要用戶培訓

快速、非破壞性的分析：快速制定流程變更決定；被檢零件無刮痕或其他損壞；不浪費

★多功能：分析涂層和未涂層零件以及電鍍液

★檢測笨重和大型項目的理想之選

★堅固耐用：IP54評級（密封防塵和防濺水），通過MIL-STD 810G檢測，堅固耐用，X-MET為在惡劣環境使用而設計

▲手持式XRF光譜儀應用于考古

手持式X射線熒光(HHXRF)經常被用于藝術和歷史文物的鑒定、保存和修復過程。這是一種非侵入式的技術，可以在幾秒鐘內識別油墨、顏料、陶瓷、青銅和其他合金，無需采樣或準備測試品。分析可以顯示物品或部件的日期和/或出處，例如檢測釉中的特定顏料，識別僅在特定時期被使用的瓷器 。手持式XRF分析還可以通過檢查物體表面的元素組成，確定物體的哪一部分被修補，并且可輕松發現差異。

為什么選擇X-MET8000？

★**的性能：快速分析和低檢測限制，可靠識別微量元素

★多用途：對各種材料進行定性和定量分析；使用X-MET的標準校準，或根據您的具體要求進行創建

★集成攝像頭：將X-MET**定位在要檢測的物體上

★可選的小光斑準直器（直徑3毫米）：將小的特征與周圍的材料分隔開，以獲得針點分析精度

★多種輻射**配件

▲手持式XRF光譜儀應用于貴金屬和珠寶檢測

手持式X射線熒光（HHXRF）分析儀通常被用于檢測珠寶和其他貴金屬物品（如硬幣、銀器），以檢驗真偽并確定其價值。貴金屬（如金(Au)和鉑(Pt)）的高價格意味著，成分的微小差別會產生巨大的產品價值差異。 HHXRF具有許多優點：快速、無損（對被測物品無劃痕或損壞、不會造成材料損失），并可為大型和小型貴金屬物品提供多元素分析。

為什么選擇X-MET8000？

★快速準確：高分析吞吐量，使生產力和盈利能力*大化

多用途：分析有價金屬、雜質和有毒元素（如鉛和鎘），以確定可能有害的物品

★完全便攜：X-MET8000小巧輕便（含電池重量5工具），可隨時隨地被運輸和使用。燈架可被放入分析儀的運輸箱內

★易于使用：直觀的用戶界面；幾乎不需要用戶培訓

★可選的集成攝像頭和小光點準直器：了解您正在檢測的內容

日立手持式XRF光譜儀|X-MET系列手持X射線熒光分析儀型號比較

X-MET8000 Smart

X射線管：40kV

濾光片：單一

檢測器：大面積 SDD

*高樣本溫度：400oC

符合 IP54 等級

Thick Kapton®窗口：保護以預防探測器的窗戶損壞

校準：基本參數法(FP)

內置攝像頭 （可選）

X-MET8000 Optimum

X射線管：40kV or 50kV

濾光片：6位濾光轉換器

檢測器：大面積 SDD

*高樣本溫度：100oC 或通過 HERO? 耐熱窗戶400oC（可選)

符合 IP54 等級

可選窗口防護罩：預防檢測器的窗口損壞進行保護

校準：基本參數法 （包括輕元素分析）

內置攝像頭（可選）

小光班準直器（可選）

針對所有元素（從鎂到鈾）進行優先分析的六位濾光片

X-MET8000 Expert

X射線管：50kV

濾光片：6位濾光轉換器

檢測器：大面積 SDD

*高樣本溫度：100oC 或通過 HERO? 耐熱窗戶400oC（可選)

符合 IP54 等級

可選窗口防護罩：預防檢測器的窗口損壞進行保護

校準方法：自動跳轉的經驗系數法（可進行追溯）

內置攝像頭

小光班準直器 （可選)

針對所有元素，從鎂到鈾，的優先分析的六位濾光片